檢索結果:共1筆資料 檢索策略: "陳建中".ccommittee (精準) and ckeyword.raw="以INL為基礎之良率優化"
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隨著製程演進,電晶體 的尺寸越縮越小,積體電路的效能受製程變異的影響越趨明顯。以最受認可的 Pelgrom 模型為例,元件面積越小所會遭遇的隨機誤配越大,將使晶片的效能劣化。設計者不能再專注於電路改…